鑒定礦石樣品晶體和顯微結(jié)構(gòu)光學(xué)顯微鏡
偏光系統(tǒng)的校正
礦相顯微鏡在進(jìn)光管中裝有前偏光鏡(4)，其振動(dòng)方向應(yīng)垂直于反
射器的對(duì)稱面，并與上偏光鏡振動(dòng)方向垂直。上偏光鏡振動(dòng)方向一般
處于南北向，前偏光鏡應(yīng)處在東西向。可用雙反射顯著的石墨或輝鉬
礦的光片來(lái)檢查，反射率最大時(shí)，晶體延長(zhǎng)方向即為前偏光的振動(dòng)方
向。
前、上偏光鏡正交的校正，是用高反射率的黃鐵礦光片在強(qiáng)光照
射的低倍物鏡下進(jìn)行的。二者正交時(shí)將出現(xiàn)平行目鏡十字絲豎絲的南
北向黑帶，在黑帶兩側(cè)對(duì)稱呈略帶灰色，否則就不正交，需轉(zhuǎn)動(dòng)兩偏
光鏡之一使黑帶通過(guò)視域中心，且黑帶兩側(cè)及兩端的明亮程度一致即
可。
反光顯微鏡試樣的制備
反光顯微鏡研究要將試樣制成磨光片，簡(jiǎn)稱為光片。為更好地鑒
定晶體和研究顯微結(jié)構(gòu)，有時(shí)將0．03mm厚的薄片一面拋光制成光薄片
，對(duì)同一試樣可同時(shí)進(jìn)行透射光和反射光研究，因此，制備試樣光片
和光薄片是必須掌握的基礎(chǔ)工作。
